當(dāng)光源照射到物體表面時(shí)，一部分光被反射回來(lái)，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。這些反射光線(xiàn)經(jīng)過(guò)干涉儀的兩個(gè)干涉臂后，會(huì)在干涉面上形成干涉圖案。干涉圖案的特征取決于物體表面的形貌和結(jié)構(gòu)。通過(guò)測(cè)量干涉圖案的參數(shù)，如干涉條紋的間距和位置，可以獲取到物體表面的形貌信息。白光干涉測(cè)量?jī)x利用這種原理，結(jié)合適當(dāng)?shù)男盘?hào)處理和算法，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)物體表面形貌的高精度測(cè)量。

在工業(yè)制造領(lǐng)域，白光干涉測(cè)量?jī)x可以用于檢測(cè)和分析各種零部件的形貌和尺寸，確保產(chǎn)品的準(zhǔn)確性和質(zhì)量。例如，在汽車(chē)制造中，可以利用白光干涉測(cè)量?jī)x對(duì)車(chē)身的平整度和曲率進(jìn)行檢測(cè)，保證車(chē)身的外觀和性能。在材料科學(xué)領(lǐng)域，白光干涉測(cè)量?jī)x可以用于研究和分析材料的表面形貌和導(dǎo)熱性能。通過(guò)測(cè)量材料表面的紋理和薄膜厚度，可以幫助優(yōu)化材料的性能和應(yīng)用。還被廣泛應(yīng)用于光學(xué)研究和光學(xué)元件的制造。通過(guò)對(duì)光學(xué)元件的表面形貌和折射率進(jìn)行測(cè)量，可以改善光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量和光學(xué)元件的穩(wěn)定性。